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Los defectos extendidos y su influencia sobre las propiedades ópticas del semiconductor
silicio —física de las radiaciones—luminiscencia—electroluminiscencia —dispositivos electroluminiscentes—interferencia—electroóptica aplicada—optoelectrónica, comunicación por fibra óptica—cuarzo—redes de sensores —análisis técnico—equipos de procesamiento de señales—espectroscopia de reflectancia—conductividad eléctrica—semiconductores—electricidad y magnetismo—fotónica, física de semiconductores—óptica aplicada
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Record · ID 305798
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