Germany – Miscellaneous general and special-purpose machinery – Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems — Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. (DEU)

65857de4-e8ac-42e6-8511-d0f97ac2a8e2-01 update-add terminliche Gründe 16 https://www.deutsche-evergabe.de ORG-0001 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. Am Wolfsmantel 33 Erlangen 91058 DE252 DEU 10342 +49 91317762230 einkauf@iis.fraunhofer.de ORG-0002 Vergabekammer des Bundes Kaiser-Friedrich-Str. 116 53113 53113 DE252 DEU d5955401-b580-4a4b-ac77-4db0ea173e2b +49 22894990 vk@bundeskartellamt.bund.de ORG-0003 Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI) Bonn 53119 DEA22 DEU 0204:994-DOEVD-83 +49228996100 noreply.esender_hub@bescha.bund.de 00146371-2026 43/2026 2026-03-03+01:00 2.3 eforms-sdk-1.12 6b550ef3-3690-4384-9c5b-4425d6f28ded e917ef94-b200-4c6f-bfe2-502a2470125b 2026-02-27+01:00 11:40:00+01:00 01 2026-02-27+01:00 32014L0024 cn-standard DEU https://www.deutsche-evergabe.de pub-undert gen-pub ORG-0001 ted-esen ORG-0003 vgv epo-notice exg-crim-corrpt exg-crim-fraud exg-crim-laund exg-crim-traffick exg-crim-part exg-crim-terror exg-mis-bre-env-law exg-mis-bre-lab-law exg-mis-bre-soc-law exg-mis-distortion exg-mis-misconduct exg-mis-misrepresent exg-mis-partic-confl exg-mis-prep-confl exg-mis-sanction exg-natl-bre-nat-law exg-pmt-bre-ssc exg-pmt-bre-tax exg-sitn-as-susp exg-sitn-insolvency exg-sitn-liq-admin exg-sitn-other restricted false PR1059709 Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems Modular, fully automated prober for optical inspection and electrical contact of electronic, photonic and mi-cro‑mechanical devices — including advanced manufacturing approaches such as quasi‑monolithic integration. The system handles 200 mm wafers as well as frames, tapes, trays and comparable substrates. An end‑to‑end carrier handling system loads carriers with mounted substrates from specialized cassettes, positions them on the prober's vacuum chuck and performs fully automated alignment. A testcard/probe‑card interface is provided for electrical connection. Probe detection and fine positioning are performed automatically to ensure reproducible contact conditions. The control software supports program-mable sequence control and reference‑point based alignment. For optical inspection the system offers a movable mechanical interface to accept modular, customer‑supplied optical inspection modules (e.g., microscope with camera) with lateral and vertical adjustment. The space above the p supplies 42900000 DED21 DEU LOT-0001 slc-stand-other Firmenprofil / Profile of your company Darstellung der Firma: Mindestangaben: - Gründungsjahr - wichtige Meilensteine des Unternehmens - Anzahl der Mitarbeiter - was wird hergestellt/welche Leistungen werden erbracht --> Alle Angaben bitte in Textform, KEINE Links oder Bilder. Firmenprofil / Profile of your company Darstellung der Firma: Mindestangaben: - Gründungsjahr - wichtige Meilensteine des Unternehmens - Anzahl der Mitarbeiter - was wird hergestellt/welche Leistungen werden erbracht --> Alle Angaben bitte in Textform, KEINE Links oder Bilder.

*** ENGLISH *** Presentation of the company: Minimum information: - Year of foundation - Important milestones of the company - Number of employees - what is produced/what services are provided --> Please provide all information in text form, NO links or images false slc-stand-other - 1_C_Eigenerklärung_Russland-Sanktionen_VO 833-2014_08.25 false slc-stand-other - C_07_Geheimhaltungsvereinbarung PR1059709 false slc-stand-other - 1_C_Self-declaration_Sanctions on Russia_VO 833-2014_08.25 false slc-stand-other - 1_C_Selfdeclaration (123-124 GWB) false slc-abil-ref-work Referenzen / References Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung), nicht älter als drei Jahre ***ACHTUNG***: Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung. --> Alle Angaben bitte in Textform, KEINE Links oder Bilder.

*** ENGLISH ***

Reference of at least 3 comparable projects, not older than three years (min. information: name of client, contact person incl. contact details). *** ATTENTION *** If for data protection reasons, you are not allowed to name your contact persons, please categorize your client (research, industry, other public contractors). --> Please provide all information in text form, NO links or images. false slc-stand-to-gen Umsatz der letzten 3 Jahre Turnover for the last 3 years Ist ein Unternehmen, das sich neu am Markt befindet, nicht in der Lage, die Zahlen für alle geforderten Geschäftsjahre anzugeben, so hat es dies begründet anzuzeigen. Soweit möglich ist ein geeigneter Nachweis zur Neugründung beizufügen. Die Zahlen zum Umsatz sind in diesem Fall ab dem Zeitpunkt der Gründung des Unternehmens anzugeben. --> Alle Angaben bitte in Textform, KEINE Links oder Bilder.

English: If a company that is new to the market is unable to provide figures for all the required financial years, it must provide a reasoned explanation. Where possible, suitable evidence of the new establishment must be enclosed. In this case, the turnover figures must be provided from the date of the company's establishment --> Please provide all information in text form, NO links or images. false false not-allowed no-eu-funds not-requ false not-allowed DEU e917ef94-b200-4c6f-bfe2-502a2470125b non-restricted-document http://www.deutsche-evergabe.de/dashboards/dashboard_off/e917ef94-b200-4c6f-bfe2-502a2470125b late-none epo-notice no required not-allowed false poi-exa 65 quality Qualitätskriterium Technische Ausführung poi-exa 35 price Preiskriterium Preis ORG-0001 http://www.deutsche-evergabe.de/dashboards/dashboard_off/e917ef94-b200-4c6f-bfe2-502a2470125b ORG-0001 (1) Etwaige Vergabeverstöße muss der Bewerber/Bieter gemäß § 160 Abs. 3 Nr. 1 GWB innerhalb von 10 Tagen nach Kenntnisnahme rügen. (2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 2 GWB spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Abgabe der Bewerbung oder der Angebote gegenüber dem Auftraggeber zu rügen. (3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 3 GWB spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbungs- oder Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber zu rügen. (4) Ein Vergabenachprüfungsantrag ist nach § 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB innerhalb von 15 Kalendertagen nach der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, bei der Vergabekammer einzureichen. ORG-0002 DEU true true required true false 2026-03-16+01:00 2026-03-11+01:00 10:00:00+01:00 false none none 0001 Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems Modular, fully automated prober for optical inspection and electrical contact of electronic, photonic and mi-cro‑mechanical devices — including advanced manufacturing approaches such as quasi‑monolithic integration. The system handles 200 mm wafers as well as frames, tapes, trays and comparable substrates. An end‑to‑end carrier handling system loads carriers with mounted substrates from specialized cassettes, positions them on the prober's vacuum chuck and performs fully automated alignment. A testcard/probe‑card interface is provided for electrical connection. Probe detection and fine positioning are performed automatically to ensure reproducible contact conditions. The control software supports program-mable sequence control and reference‑point based alignment. For optical inspection the system offers a movable mechanical interface to accept modular, customer‑supplied optical inspection modules (e.g., microscope with camera) with lateral and vertical adjustment. The space above the probe platen (platen area) must remain completely clear during measurements; this is necessary to allow customer analysis hardware to be installed, aligned and operated without restriction and to prevent prober‑internal assemblies from obstructing access, line‑of‑sight or mounting of customer equipment. supplies false none 42900000 DED21 DEU 2026-10-01+02:00 2026-12-31+01:00

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