Análise em mev de áreas de sujidade e de desgaste em limas de níquel titânio em relação ao seu número de uso

O objetivo deste estudo foi verificar, em microscopia eletrônica de varredura (MEV), áreas de defeitos de fabricação na ponta de limas de Ni Ti (Profile .04/Maillefer) sem uso, assim como a presença de áreas de sujidade e de desgaste, em função do número de uso desse instrumento. Para tanto, foram s