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Efecto del esfuerzo mecánico sobre una estructura TFT con óxido de zinc (ZnO) como capa activa

Rincón Suárez, Eliseo
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ciencias físico matemáticas y ciencias de la tierra, ingeniería eléctrica--electrónica--aparatos y materiales--semiconductores--transistores--otros--película delgada, transistores de película delgada--investigación, películas delgadas de óxido de zinc, piezoelectricidad
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